ウェビナー

【脱！目視検査】外観検査装置による過検出問題解決AIウェビナー

こんな方にお勧めです！

• 外観検査装置の過検出による目視確認を減らしたい方
• 現場でAIを導入したいがどう始めたら良いのかわからない方
• AI導入のデータ収集にお困りの方
• 組込み型AIの開発を考えている方 (エッジAI)

 

「しきい値が高くNG品をしっかり認識できることは有難いが、問題ないものまで抽出されると手間が増えてしまう」
「画像データを何千枚も集めるのは時間がかかりすぎてしまう」

このように外観検査装置の課題を一度は感じたことがあるのではないでしょうか。

今回開催するウェビナーでは、AI導入の始め方またAIを導入することで外観検査時の過検出を減らし、再検査のコストや手間を解決するソリューションを提案いたします。

是非この機会をご利用いただき、皆様のプロジェクトにお役に立てください。

 

アジェンダ

• 製造現場における課題とAIを始める前に準備すること（PALTEK）
• AIを活用した検査業務の効率化・自動化について（HACARUS）
• 現場で簡単AI学習 ―多品種少量生産対応 エッジAI外観検査―（LeapMind）

 

ウェビナー概要

開催日時	2022年2月17日(木) 14:00～15:00（55分 + Q&A）
受講費用	無償
受講対象者	・FPGA設計者 ・テストエンジニア ・AIエンジニア ・プロジェクトマネージャー
開催方法	ウェビナー形式（チャット機能によりリアルタイムで質疑応答可能です。） ウェビナーツール「Zoom」を利用します。
受講方法	開催前日までにお申込いただいた方へウェビナー入場用のURLを別途メールにてお知らせいたします。 メールが届かない方は、迷惑メールフォルダをご確認いただくか、お問合せフォームにてご連絡ください。
備考	※競合製品取り扱い企業様の申込については、お断りする場合がありますので予めご了承ください。 ※個人およびフリーメールアドレスによるお申込み、また過去に同ウェビナーを受講されたことのある方のご参加はお断りしています。
受付締切	2022年2月16日（水）12:00

登壇者プロフィール

 

 

 

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